芯片老化测试是确保半导体器件长期稳定运行的关键环节。本文详解芯片可靠性验证流程，涵盖 HTOL、LTOL 等核心测试项目及 AEC-Q100 标准。深入剖析测试步骤、失效机理与评估方法，为电子企业提供专业老化试验指导，助力产品提升耐久性与市场竞争力。通过科学验证筛选早期失效，保障电子设备在复杂环境下的使用寿命与安全性。